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Leica 單分子檢測平臺TCS SMD
?Leica公司首次發布了單分子檢測系統----TCS SMD系列，為Zui規的單分子技術提供了集成的平臺，如FLIM、FCS實驗。同時還為分子濃縮、分子間相互作用等更新、更精確的研究方向提供了研究工具，如FCCS（熒光相關光譜）和FLCS（熒光壽命相關光譜）。
3D共聚焦和干涉三維檢測顯微鏡的發布
2009年，Leica 發布新的無接觸3D平面檢測技術，該技術能識別小于1nm的結構。通過和共聚焦技術結合，第一次在感應器頭部進行干涉測量彩色成像，這個名叫DCM的3D檢測顯微鏡是由Leica和西班牙Sensofar-Tech 公司聯合開發的。
M-692線性電動定位載物臺的介紹
? 壓電系統的專家PI近日推出了M-692系列載物臺。這一新品超音速線性載物臺適用于有限空間內的快速定位。 這次推出的兩款載物臺M-692.1U4，M-692.2U4行程分別為20mm及90mm；具備閉環線性馬達驅動并且可以為定位等功能。這兩種型號均配無反沖定位線性編碼器。這兩款新型載物臺適用于任意的xy定位。
Andor發布高性能EMCCD iXon X3
iXon X3系列提供了高級的特性OptAcquire?。這一設計使得用戶可以單擊鼠標就可以優化一系列相機獲取參數，這樣可以在很廣泛的應用中獲得Zui好的效果。OptAcquire的作用使iXon X3易于操作，同時操作也非常靈活。
IPP（Image-Pro Plus）的功能簡述
為獲得Zui好的分析結果，您首先要拿到高品質圖像。Image-Pro將幫助您輕松獲得高品質圖像，有了Image-Pro Plus ，您可以直接從相機、掃描器、光盤等直接采圖。可以簡便可重復的控制復雜的顯微鏡設備，自動化控制顯微鏡的X\Y\Z軸，簡化顯微鏡的手動設置。
濱松開發“微型光電倍增管”
濱松光子學株式會社，日本—2010年9月28日報導：濱松光電，依靠世界領先的光電倍增管（PMT）技術，成功研發了高度集成的新一代光電倍增管μPMT (Micro PMT，即微小光電倍增管)。μPMT是世界上第一個通過半導體工藝MEMS（Micro-Electro-Mechanical Systems，微機電系統）設備制造的光電倍增管。它比濱松原來Zui小型的PMT還要小，相比之下，μPMT只占原來PMT的1/7體積、1/9重量。
HT7700型透射電子顯微鏡的發布
日立高新技術銷售的"HT7700"是日立TEM H-7000系列的Zui新機型, 該系列已在全世界銷售超過800臺。這是一款劃時代的新產品，為使其在同系列的主要用途--生物制藥到納米技術和軟材料等廣泛的領域中得到應用，日立高新技術賦予它優異的操作性與多樣的數碼圖像功能。通過將照相機與顯微鏡主機的操作相統一，既可以在顯示器畫面上簡單地進行操作，又能在通常明亮的室內進行觀察。
FEI的 Tecnai Osiris 透射電鏡為分析速度設置新標準
做為原子級成像和分析系統的主要供應商，FEI 公司Zui新發布Tecnai Osiris掃描/透射電鏡，該款電鏡在分析速度和表現上有著革命性的意義。內置新的ChemiSTEM 技術，它能把大視野下元素成像的時間從小時降到分鐘級別。
Vision共推出Falcon300三維視頻測量系統
Vision工程公司利用50年的光學制造經驗制造了一款3軸無需接觸的測量系統，這款系統技術先進、精確、個頭小，適于現場監控和制造檢測。
直接發光綠色的InGaN激光器
二零零九年八月十三日 --? 歐司朗光電半導體成功研發直接發光綠色氮化銦鎵(InGaN) 激光，標志著實驗室研究取得重大突破。該款激光的光輸出高達 50 mW，發射波長為 515 nm 的真綠光線。與目前采用倍頻技術的半導體激光相比，直接發光綠色激光器體積更小，溫度穩定性更高，調制能力更強，更易于控制。
新一代分析電鏡MERLIN FE-SEM的發布
Carl Zeiss發布了一系列創新產品，內有一款 新一代分析場激發掃描電鏡MERLIN。這個設備具有目前備受爭議的超高分辨率成像和分析功能。“用戶不僅僅需要高分辨率圖像，” 蔡司董事會成員Dr. Dirk Stenkamp解釋說“因為具有獨特的分析能力，我們的設備能提供Zui全面的信息”。
新Falcon視像測量顯微鏡系統的推出
新型Falcon 三軸無觸點視像觀察顯微鏡，融合了Vision公司50年來在三軸視像觀察方面的研發經驗研發而成。 Vision Engineering將很多技術融合在了一個小小的集成足印系統中，適用于工廠車間質檢，還適用于制造工業中的檢測，所以你會發現該產品的性價比極高。