偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
原理是利用斜射光照射,它將相位梯度轉換為光強度變化,這樣可以用來觀察未經染色的樣品和活細胞。這項技術可以視厚樣品觀察有立體感。羅伯特霍夫曼博士在1975 年發明這項技術。
塑料DIC不同于普通的透射微分干涉顯微術(DIC),它不用偏振光這樣的特殊光線照亮目標物,因此聚光鏡側也沒有起偏器。在透過DIC棱鏡后光線才形成線性偏振光,接下來的檢偏鏡使在同一平面震動的光透過,因此形成干涉。
暗視野實際是暗場照明。它的特點和明視野不同,不直接觀察到照明的光線,而觀察到的是被檢物體反射或衍射的光線。因此,視場為黑暗的背景,而被檢物體則呈現明亮的像。
微分干涉鏡檢術出現于60 年代,它不僅能觀察無色透明的物體,而且圖像呈現出浮雕狀的立體感,并具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點,觀察效果更為逼真。
在光學顯微鏡的發展過程中,相差鏡檢法的發明成功,是近代顯微鏡技術中的重要成就。我們知道,人眼只能區分光波的波長(顏色)和振幅(亮度)。對于無色透明的生物標本,當光線通過時,波長和振幅變化不大,在明場觀察時很難觀察到標本。
這一系列物鏡的色差校正能力擴展到了包括紫光的整個可見光譜,提供了更大的數值孔徑,可以在視野的中心到很遠的邊緣校正各類像差。它們卓越的分辨能力,使研究人員在做高難度的研究觀察或苛刻的顯微攝影任務時,獲得Zui滿意圖像平滑度和顏色保真度。
擁有150多年顯微鏡制造歷史的德國徠卡顯微系統公司生產的系列顯微鏡采用了多項現代“光、機、電”技術領域的先進科技技術。因此在正確使用的同時,做好顯微鏡的日常維護和保養,也是非常重要的一環。注重顯微鏡的良好維護和保養,可以延長顯微鏡的使用時間并確保顯微鏡能始終處于良好的工作狀態。
偏光顯微鏡是研究透明礦物光學性質的主要儀器。與一般的生物顯微鏡相比,Zui主要的區別是有兩個偏光鏡。其中,一個安裝在載物臺之下,稱下偏光,另一個安裝在載物臺之上的鏡筒中,稱上偏光。在偏光顯微鏡中,上偏光的振動方向是固定的,而下偏光的振動方向是可以調節的。一般來說,兩個偏光的振動方向是相互垂直的。